เครื่องตรวจวัดโลหะมีค่า

EDX6000D

Snap26

EDX6000E

Snap27

การวิเคราะห์เชิงปริมาณและคุณภาพสำหรับเครื่องประดับ

การกระจายพลังงานสเปกโตรมิเตอร์ X-ray fluorescence (EDXRF) เป็นเทคนิคการวิเคราะห์ที่หลากหลายที่สุดและเป็นที่นิยมสำหรับการวิเคราะห์ธาตุของโลหะมีค่า และค่า ค่าเปอร์เซ็นทอง (Karat ID). วิเคราะห์องค์ประกอบจากโซเดียม – ยูเรเนียม สามารถวิเคราะห์ได้ในระยะเวลาสั้น ๆ ที่มีความแม่นยำสูง ตรวจเช็คแบบไม่ทำลาย ได้ผลที่แม่นยำกว่าการตวจด้วยสารเคมีแบบดั้งเดิม (การทดสอบด้วยไฟ) และวิธีการอื่น ๆ การพัฒนาเทคโนโลยีเครื่อง EDXRF ประยุกต์ใช้กับการตรวจเช็คเครื่องประดับ.รุ่น EDX6000E จะวิเคราะห์คุณภาพงานได้อย่างแม่นยำและวิเคราะห์ธาตุทองคำเช่นเดียวกับการวิเคราะห์เปอร์เซ็นทอง

คุณสมบัติ

  • การตรวจเช็คความละเอียดสูงด้วยกล้อง HD, ใช้งานง่าย, การวิเคราะห์อย่างรวดเร็วรวมถึงการอินเตอร์เฟซที่ใช้งานง่าย
  • รวดเร็ว ง่ายต่อการวิเคราะห์องค์ประกอบและค่าเปอร์เซ็นทอง
  • เครื่องมีขนาดเหมาะ ตั้งโต๊ะ หรือขนาดพื้นที่น้อย
  • ง่ายต่อการเข้าถึงผลการทดสอบที่วิเคราะห์ โดยผู้ใช้สามารถอัปโหลดและดาวน์โหลดไปยังเครือข่าย
  • ความปลอดภัยทาง X-ray จากตัวเครื่อง ตลอดการวิเคราะห์งาน

การใช้งานทั่วไป

  • วิเคราะห์องค์ประกอบของ Au, Pt, Ag, Pd มีความแม่นยำสูง
  • แยกประเภทของโลหะมีค่าได้อย่างรวดเร็วและแม่นยำ
  • ระบุสิ่งแปลกปลอมในโลหะมีค่า
  • ระบุและแสดงลักษณะ elements ในชิ้นงานได้อย่างแม่นยำ

Model Specifications

Model

EDX6000D

EDX6000E

Composition range

1ppm to 100%

1ppm to 100%

Repeatability

RSD≤0.05%  Au≥90%

RSD≤0.05%  Au≥90%

Sample type

Solid, powders, liquid

Solid, powders, liquid

Elements of interests

Au, Ag, Pt, Pd, Ru, Rh, w, Os, Ir

Au, Ag, Pt, Pd, Ru, Rh, w, Os, Ir

Basic metals

Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Cd, Sn, Pb

Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Cd, Sn, Pb

Tube voltage

5 KV ~ 50 KV

5 KV ~ 50 KV

HV unit

0 ~ 50 KV

0 ~ 50 KV

Tube current

0 µA ~ 1000  µA 

0 µA ~ 1000  µA 

Camera

HD CCD Camera

HD CCD Camera

Multi-selection of filters

Depend on application

Depend on application

Detector

Si-pin / SDD

Si-pin / SDD

FWHM

Si-pin 160 ± 5 eV/SDD 135 ± 5 eV

Si-pin 160 ± 5 eV/SDD 135 ± 5 eV

Htek-DCMP

-

Built in computer

Software

Htek – FP

Htek – FP

Temperature

15°C ~ 30°C

15°C ~ 30°C

Humidity

35% ~ 70%

35% ~ 70%

Power Supply

AC 220V ± 10%, 50/60 Hz

AC 220V ± 10%, 50/60 Hz

Test time

30 sec ~ 100 sec

30 sec ~ 100 sec

Sample Chamber Dimensions

310 x 280 x 60 (mm)

310 x 280 x 60 (mm)

Instrument dimensions

380 x 372 x 362 (mm)

380 x 372 x 362 (mm)

Instrument weight

31 Kg

38 Kg