เครื่องตรวจวัดโลหะมีค่า
EDX6000D

EDX6000E

การวิเคราะห์เชิงปริมาณและคุณภาพสำหรับเครื่องประดับ
การกระจายพลังงานสเปกโตรมิเตอร์ X-ray fluorescence (EDXRF) เป็นเทคนิคการวิเคราะห์ที่หลากหลายที่สุดและเป็นที่นิยมสำหรับการวิเคราะห์ธาตุของโลหะมีค่า และค่า ค่าเปอร์เซ็นทอง (Karat ID). วิเคราะห์องค์ประกอบจากโซเดียม – ยูเรเนียม สามารถวิเคราะห์ได้ในระยะเวลาสั้น ๆ ที่มีความแม่นยำสูง ตรวจเช็คแบบไม่ทำลาย ได้ผลที่แม่นยำกว่าการตวจด้วยสารเคมีแบบดั้งเดิม (การทดสอบด้วยไฟ) และวิธีการอื่น ๆ การพัฒนาเทคโนโลยีเครื่อง EDXRF ประยุกต์ใช้กับการตรวจเช็คเครื่องประดับ.รุ่น EDX6000E จะวิเคราะห์คุณภาพงานได้อย่างแม่นยำและวิเคราะห์ธาตุทองคำเช่นเดียวกับการวิเคราะห์เปอร์เซ็นทอง
คุณสมบัติ
- การตรวจเช็คความละเอียดสูงด้วยกล้อง HD, ใช้งานง่าย, การวิเคราะห์อย่างรวดเร็วรวมถึงการอินเตอร์เฟซที่ใช้งานง่าย
- รวดเร็ว ง่ายต่อการวิเคราะห์องค์ประกอบและค่าเปอร์เซ็นทอง
- เครื่องมีขนาดเหมาะ ตั้งโต๊ะ หรือขนาดพื้นที่น้อย
- ง่ายต่อการเข้าถึงผลการทดสอบที่วิเคราะห์ โดยผู้ใช้สามารถอัปโหลดและดาวน์โหลดไปยังเครือข่าย
- ความปลอดภัยทาง X-ray จากตัวเครื่อง ตลอดการวิเคราะห์งาน
การใช้งานทั่วไป
- วิเคราะห์องค์ประกอบของ Au, Pt, Ag, Pd มีความแม่นยำสูง
- แยกประเภทของโลหะมีค่าได้อย่างรวดเร็วและแม่นยำ
- ระบุสิ่งแปลกปลอมในโลหะมีค่า
- ระบุและแสดงลักษณะ elements ในชิ้นงานได้อย่างแม่นยำ
|
Model Specifications |
||
|
Model |
EDX6000D |
EDX6000E |
|
Composition range |
1ppm to 100% |
1ppm to 100% |
|
Repeatability |
RSD≤0.05% Au≥90% |
RSD≤0.05% Au≥90% |
|
Sample type |
Solid, powders, liquid |
Solid, powders, liquid |
|
Elements of interests |
Au, Ag, Pt, Pd, Ru, Rh, w, Os, Ir |
Au, Ag, Pt, Pd, Ru, Rh, w, Os, Ir |
|
Basic metals |
Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Cd, Sn, Pb |
Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Cd, Sn, Pb |
|
Tube voltage |
5 KV ~ 50 KV |
5 KV ~ 50 KV |
|
HV unit |
0 ~ 50 KV |
0 ~ 50 KV |
|
Tube current |
0 µA ~ 1000 µA |
0 µA ~ 1000 µA |
|
Camera |
HD CCD Camera |
HD CCD Camera |
|
Multi-selection of filters |
Depend on application |
Depend on application |
|
Detector |
Si-pin / SDD |
Si-pin / SDD |
|
FWHM |
Si-pin 160 ± 5 eV/SDD 135 ± 5 eV |
Si-pin 160 ± 5 eV/SDD 135 ± 5 eV |
|
Htek-DCMP |
- |
Built in computer |
|
Software |
Htek – FP |
Htek – FP |
|
Temperature |
15°C ~ 30°C |
15°C ~ 30°C |
|
Humidity |
35% ~ 70% |
35% ~ 70% |
|
Power Supply |
AC 220V ± 10%, 50/60 Hz |
AC 220V ± 10%, 50/60 Hz |
|
Test time |
30 sec ~ 100 sec |
30 sec ~ 100 sec |
|
Sample Chamber Dimensions |
310 x 280 x 60 (mm) |
310 x 280 x 60 (mm) |
|
Instrument dimensions |
380 x 372 x 362 (mm) |
380 x 372 x 362 (mm) |
|
Instrument weight |
31 Kg |
38 Kg |
